系统工程与电子技术

北大核心,INSPEC,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2422/TN

国际刊号:1001-506X

系统工程与电子技术杂志2021年第6期:多种退化机理作用下的产品可靠性建模

发布日期:

作者:翟亚利, 张志华, 邵松世

单位:海军工程大学基础部, 湖北 武汉 430033

关键词:性能退化,可靠性评估,扩散过程,非齐次Poisson过程

针对受不同因素影响导致性能逐步退化的产品, 首先对造成性能退化产品失效的退化机理进行分析, 将产品性能指标退化看成是由连续性影响因素和离散性影响因素共同作用的结果。其次, 基于扩散过程和累积失效理论, 建立多种退化机理作用下产品性能指标退化模型, 给出模型中参数的估计方法和性能退化产品可靠度估计方法。最后, 通过对某测深设备零位电压数据和液力耦合器振动幅值测量数据进行分析, 说明所提方法是可行的和有效的。

来源:2021年第6期

《系统工程与电子技术》期刊编辑部

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