系统工程与电子技术

北大核心,INSPEC,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2422/TN

国际刊号:1001-506X

系统工程与电子技术杂志2021年第12期:双指标阶段性退化建模及可靠性分析

发布日期:

作者:毛泽龙, 王治华, 吴琼, 刘成瑞

单位:1. 北京航空航天大学航空科学与工程学院, 北京 100083;2. 北京空间飞行器总体设计部, 北京 100080;3. 北京控制工程研究所研发中心, 北京 100080

关键词:可靠性分析,Wiener退化过程,双指标,阶段性,Copula函数

基金:国家自然科学基金(11872085);国家重点研发计划(2018YFF0216004)

高可靠长寿命产品常需同时满足多种功能, 退化机理复杂, 其性能退化过程中多指标、多阶段的问题日益凸显。为此, 考虑退化过程的阶段性特征及不同阶段指标间耦合性规律, 基于Copula函数和Wiener过程建立了双指标阶段性退化模型及可靠性分析方法。同时, 针对产品退化过程中两指标变点不在同一位置的一般性情况, 提出了一种考虑双指标变点的模型参数整体估计方法。最后, 通过舱门锁实例的对比分析, 对所提方法的适用性和有效性进行了验证。结果表明, 同传统双指标模型相比, 所提方法能更为准确地描述退化过程的相关性与阶段性规律, 得到的可靠性评估结果更合理有效。

来源:2021年第12期

《系统工程与电子技术》期刊编辑部

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