系统工程与电子技术

作者：张点, 邢云燕, 蒋平

单位：国防科技大学系统工程学院, 湖南 长沙 410073

关键词：可靠性鉴定试验,可靠性增长过程,指数分布,Bayes方法

基金：国家自然科学基金(72271239)

针对现行可靠性鉴定试验标准GJB-899A中提供的试验鉴定方案存在试验时间过长或试验风险过大，且当前可靠性鉴定试验设计大多只依赖于产品自身的寿命数据，而对产品研制过程中的可靠性增长数据利用较少的问题，以寿命服从指数分布的产品为研究对象，基于美军陆军装备分析中心提出的可靠性增长模型AMSAA模型对产品研制阶段的可靠性增长过程进行建模。再利用Bayes方法基于产品可靠性增长过程的试验数据来获取产品寿命分布，计算产品可靠性鉴定试验方案的生产方风险和使用方风险，进而推导得到满足风险要求的产品可靠性鉴定试验方案。通过实例分析以及与GJB899A所提出的试验方案对比，验证了所提方法的可行性与先进性。

来源：2023年第11期

《系统工程与电子技术》期刊编辑部

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