系统工程与电子技术

北大核心,INSPEC,JST,EI,CSCD

国内刊号:11-2422/TN

国际刊号:1001-506X

系统工程与电子技术杂志2024年第4期:综合孔径微波辐射成像技术发展现状与趋势

发布日期:

作者:卢海梁, 范清彪, 李鹏飞, 李一楠, 严颂华, 郎量, 靳榕, 李青侠

单位:1. 湖北珞珈实验室, 湖北 武汉 430079;2. 中国空间技术研究院西安分院, 陕西 西安 710100;3. 武汉大学遥感信息工程学院, 湖北 武汉 430079;4. 华中科技大学多谱信息处理重点实验室, 湖北 武汉 430074

关键词:综合孔径,微波辐射,被动遥感,目标探测,高空间分辨率

基金:国家自然科学基金(41975042);国家自然科学基金(42276183)

从综合孔径微波辐射成像技术实际需求和技术特点出发, 首先简要回顾了综合孔径微波辐射成像技术的整个发展历程; 然后, 从地球被动微波遥感和目标被动探测两个应用领域较为全面地介绍了综合孔径微波辐射成像技术的发展现状, 包括综合孔径微波辐射成像系统研制和相关重要研究进展等; 最后, 从高空间分辨率和多手段联合等方面总结了综合孔径微波辐射成像技术的发展趋势。随着综合孔径微波辐射成像技术的发展,其在地球被动微波遥感和目标探测领域将会得到更广泛的应用。

来源:2024年第4期

《系统工程与电子技术》期刊编辑部

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