系统工程与电子技术

作者：张生鹏*, 黄硕, 徐如远, 马小兵

单位：1. 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院，北京 100191；2. 航天科工防御技术研究试验中心，北京 100854

关键词：弹上产品,失效率模型,设计信息,试验信息,贮存寿命评估,Copula函数

弹上产品贮存寿命评估未充分利用设计信息、失效判据未直接反映耗损期失效机理，如何在考虑上述问题的基础上进一步深入研究多参数耦合下的贮存寿命评估具有重要意义。为此，提出一种融合设计与试验多源信息的弹上产品贮存寿命评估方法。首先，以失效率作为寿命判据构建贮存寿命表征指标，分析贮存寿命影响因素，明确设计和试验信息来源。其次，基于广义应力-强度干涉模型，构建综合考虑设计参数的离散型、贮存工况的随机性及性能参数退化的产品失效率模型。再次，利用Copula函数将失效率模型泛化到多参数的情形，给定失效率阈值，通过遗传算法估计贮存寿命。最后，以一种控制放大器为例，验证了所提方法的有效性。分析表明，所提方法有效解决了目前存在的设计参数与贮存寿命指标不相关的问题，为支撑贮存寿命正向设计与准确评估提供了有力支撑。

来源：2026年第3期

《系统工程与电子技术》期刊编辑部

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